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摘要
冷冻电子断层扫描成像（cryo-ET）是细胞原位解析生物大分子结构的核心技术，cryo-ET的样品厚度需要小于300 nm，冷冻样品聚焦离子束减薄（FIB）是样品制备流程中的必要环节。当前，FIB存在难以迅速精确定位目标区域的问题，原位冷冻光电关联技术（cryo-CLEM）是一项新兴的技术，对原位冷冻样品分别进行冷冻光镜成像和电镜成像，结合了荧光成像的定位优势和电镜成像的分辨率优势，通过将光镜和电镜图像进行配准，指导FIB对原位冷冻样品减薄，能够极大地提高cryo-ET的样品制备效率。本文介绍了cryo-CLEM中的原位冷冻技术和光电关联成像技术的最新进展和应用情况，重点讨论了超分辨cryo-CLEM成像技术以及嵌入式cryo-CLEM技术，分析了各种方法的优缺点和适用范围，并对cryo-CLEM技术当前面临的主要限制和未来的发展方向进行了展望。
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