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摘要
目的:研究安氏Ⅰ类错患者在间隙关闭过程中分别使用一步法或两步法对上颌支抗的影响。方法:选择安氏Ⅰ类中度拥挤,拔除4个第一前磨牙,侧貌较突的女性成人患者125人,按支抗及关闭方式分为4组,分别使用强支抗和中度支抗、一步和两步滑动法关闭间隙,对其治疗前后X线投影测量结果进行分析比较。结果:无论是强支抗还是中度支抗,两步法与一步法支抗丧失量无统计学差异。使用强支抗组磨牙近移量少,支抗丧失少(P<0.05)。结论:使用一步法或两步法关闭拔牙间隙,上颌第一磨牙前移量无显著差异。强支抗引起的磨牙近移量少于中度支抗。
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单位第四军医大学; 军事口腔医学国家重点实验室
