在高精度荧光型光纤测温系统中,由于多谱线发光、宽谱线发光等因素的存在,荧光材料发出的荧光余辉常常是一条类指数曲线,而传统的求解荧光寿命的算法如傅里叶变换、积分面积比值、最小二乘法等都无法消除非指数分量的影响。论文采用了Prony法进行多指数拟合可以减少非指数分量对测量的影响,并与前面三种数据处理方法之间进行了对比分析和仿真验证。结果表明,存在非指数分量时,Prony法具有很高的精度。