摘要
目的探讨原代培养的小鼠大脑皮层神经元经不同浓度镉(cadmium,Cd)处理不同时间后磷酸化c-JNK氨基末端激酶(phosphorylated c-Jun N-terminal kinase,p-JNK)表达的变化。方法原代培养的小鼠大脑皮层神经元经0、5、10、20μmol/L氯化镉染毒0、6、12、24 h后,采用MTT法检测细胞活性;用蛋白免疫印迹法检测p-JNK蛋白的表达水平。结果Cd浓度为5、10、20μmol/L时,随着Cd浓度的升高及染毒时间的延长,神经元突起变细,甚至断裂,胞体变为球形后脱落,漂浮于培养液中。与对照组比较,随着Cd浓度的升高和处理时间的延长,原代培养的小鼠大脑皮层神经元的存活率明显下降(P<0.05),且大脑皮层神经元中p-JNK的表达量升高(P<0.05)。结论 Cd可能通过上调p-JNK的表达引起原代培养小鼠大脑皮层神经元的死亡。
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单位贵州医科大学; 解剖学教研室; 贵阳市第四人民医院; 基础医学院