摘要

以标准测试条件下晶硅电池输出参数为参考,研究了实际测试条件下,载片台与测试电池片之间热接触性质不同时,晶硅电池内部温度分布和输出参数的变化情况.研究表明,当测试的晶硅电池片与载片台之间形成良好的热接触时,相对标准测试条件,电池内部产生的温度漂移很小,测试电池输出参数VOC, JSC, FF和η的不确定度分别为0.0037%, 0.000196%, 0.000845%和0.0044%;当测试的晶硅电池片与载片台之间未形成良好的热接触时,相对标准测试条件,电池内部产生的温度漂移最大可达9.5℃,测试电池输出参数VOC, JSC, FF和η的不确定度分别为0.1644%, 0.0038%, 0.0533%和0.2134%.