偏光片表面缺陷智能多分选控制技术

作者：石鹏飞; 王建雄; 胡文平; 宋俊耀; 马瑞雪; 于百灵

来源：机械工程与自动化, 2023, (01): 180-184.

• 偏光片
• 表面缺陷检测
• 分选控制技术

设计了一个分选矩阵并给出了对应的监督机制，将缺陷信号行向量和该分选矩阵相乘，直接得出分选结果，解决了偏光片缺陷检测完毕后细化缺陷分类的问题。