用整流二极管测试光学纳米天线辐射效率的方法

作者：李娜; 张进; 高格婷; 弋秋平; 孙振远; 支凡; 朱佳琪

来源：2020-07-14, 中国, ZL202010672116.5.

本发明公开了一种用整流二极管测试光学纳米天线辐射效率的方法,具体实现步骤如下：(1)搭建测试平台；(2)测试回路的电压电流分布曲线；(3)获得测试平台最大输出功率；(4)计算测试平台的光电转化效率；(5)计算测试平台的耦合效率；(6)确定光学纳米天线的辐射效率。本发明通过构造光学纳米天线的整流二极管,充分考虑光频整流与光学纳米天线之间的阻抗匹配,在测试操作简单、测量误差小的同时,提高了光学纳米天线辐射效率测试结果的准确性。

• 单位
  西安电子科技大学