钼的X射线荧光分析方法及其在高压开关用塑料质量控制中的应用

作者：杨韧; 王青; 岳宣峰^*

来源：分析科学学报, 2021, 37(05): 632-636.

DOI：10.13526/j.issn.1006-6144.2021.05.010

• 聚四氟乙烯
• 钼分析
• X射线荧光法
• 基体

功能型聚四氟乙烯(PTFE)塑料质量控制的一个重要环节是其中Mo的分析,而PTFE塑料耐腐蚀耐高温性质使得其Mo的分析面临很多挑战。本工作采用单体PTFE材料模拟PTFE塑料,建立了分析PTFE塑料中Mo的X射线荧光分析法(XRF)。该方法绕开了PTFE塑料湿法及高温处理的难题,简化了PTFE塑料样品的处理过程,方法的定量范围(线性范围是0.05%～2.00%)和准确度(回收率为90%～110%)都满足高压开关用塑料中Mo的分析要求。该研究为高压开关企业开展质量控制提供了可靠的方法。

• 单位
  生命分析化学国家重点实验室; 国网陕西省电力公司电力科学研究院; 陕西师范大学