摘要
采用旋涂法制备氧化镍(NiO)薄膜,用化学气相沉积法在其表面生长碲化铋(Bi2Te3),形成NiO/Bi2Te3异质结,采用X射线衍射、拉曼光谱、扫描电镜、能量色散光谱以及光致发光光谱来表征异质结材料。研究了Ni2+浓度对光电探测器的光谱响应和光功率响应的影响。结果表明Ni2+浓度为0.5 mol/L时器件表现出最佳的光响应性能。研究还发现NiO中掺入纳米金颗粒(AuNPs)可以显著提升器件的光响应性能。本文研究验证了在FTO/NiO+AuNPs/Bi2Te3/Ag结构中,两个内建电场和AuNPs对光响应性能提升的叠加效应,为NiO在光电探测领域的应用提供了借鉴。
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单位华东理工大学; 物理学院