本文利用粉末压片法制备出了满足XRF测量的分析试样,将X射线荧光光谱线性(EZ)扫描应用到了玻璃样品的全分析中,结果表明,EZ扫描得到的结果,为采用常规化学分析方法进行玻璃全分析时制定实验方案起到了重要的指导作用,从而大大的降低了试验时间,提高了检测效率。
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