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摘要
本发明公开了一种宇航用抗辐照PLL锁相环电路抗辐照性能评估方法,主要解决现有技术在辐照环境下对电路的功能和性能评估不全面的问题,其技术方案为：从工程试验结果及电路内部设计原理出发,根据PLL锁相环电路在地面加速工程辐照试验时所表征出来的功能及性能的变化,结合不同层面用户的需求,提出用PLL单粒子伪失锁截面、PLL单粒子失锁截面、PLL单粒子功能错误截面和PLL单粒子失锁恢复截面四个评估参数所组成的评估列表综合表征宇航用抗辐照PLL电路的抗辐照性能,从而更加系统合理地解决了PLL电路抗辐照性能评估不全面的问题,为宇航用抗辐照PLL锁相环电路的空间工程应用及地面抗辐照加固设计提供参考依据。
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