叶面阻隔对水稻吸收和转运镉的影响

作者：唐乐斌; 黄燕玲; 周子寒; 吴辰润; 宋波

来源：中国环境科学, 2024, 44(3): 1534-1541.

DOI：10.3969/j.issn.1000-6923.2024.03.036

• 大田
• 叶面阻隔
• 镉污染
• 硅
• 硒
• 水稻

为实现Cd污染农田稻米安全生产,采用田间试验,以五优1179和丝香1号作为供试材料,于水稻孕穗期和灌浆期喷施硅(Si)、硒(Se)阻隔剂,探讨其对稻谷产量、农艺性状、糙米Cd含量及不同部位对Cd吸收和转运的影响.结果表明:较空白相比,喷施流体硅后五优 1179 和丝香 1 号的稻谷产量分别增产9.02%和 2.03%,喷施螯合硒后五优 1179 增产 7.27%,丝香 1 号的稻米产量下降 5.40%;不同处理下丝香 1 号的剑叶长度均大于五优 1179,株高范围为110～112cm;叶面喷施流体硅可使品种五优1179和丝香1号的糙米Cd含量降至0.181,0.186mg/kg,喷施螯合硒后丝香1号的糙米Cd含量达0.169mg/kg,五优1179的糙米Cd含量由0.487mg/kg降至0.202mg/kg,未达《食品安全国家标准》(GB 2762-2022)中糙米Cd限量标准(0.2mg/kg);喷施流体硅后两种水稻不同部位Cd含量顺序为根＞其他节＞第一节＞其他叶＞剑叶＞颖壳＞穗轴＞糙米,施用螯合硒后不同部位Cd含量变化主要表现在穗轴＞颖壳.外源喷施流体硅和螯合硒均能显著降低两种水稻体内Cd含量(P＜0.05),根、茎和糙米中Cd含量显著下降,TF 穗轴/剑叶受到抑制.而相较于喷施流体硅,喷施螯合硒后水稻穗轴Cd含量和TF穗轴/剑叶上升,TF颖壳/穗轴明显下降;相关性分析结果表明,糙米Cd含量与根和茎Cd含量呈显著正相关(P＜0.01),与其他叶Cd含量呈显著负相关(P＜0.05).流体硅不但有利于提高稻米产量,还能降低糙米Cd含量,且经济成本相对较低,建议在该区域Cd污染安全利用类农田推广使用.