开关复位型前放芯片CPRE＿SW2的噪声及抗辐射性能测试

作者：暴子瑜; 王科^*; 李鲜; 曹学蕾

来源：湘潭大学自然科学学报, 2018, 40(04): 66-70.

DOI：10.13715/j.cnki.nsjxu.2018.04.016

• 前放
• 开关复位
• 低噪声
• 抗辐射
• 读出芯片

介绍了一种匹配冷却型半导体探测器的开关复位型前放芯片CPRESW2,探索其三种不同的复位工作模式,实现对探测器信号的预处理,具有高能量分辨率低噪声的优点.给出了芯片的电子学测试过程及与实际探测器联调结果,并针对单粒子锁定效应对芯片进行了辐照试验.

• 单位
  中国科学院高能物理研究所; 核探测与核电子学国家重点实验室