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摘要
中子与γ射线辐照对屏蔽材料性能的影响直接关系到了核设施的运行安全性。本研究以B4C/环氧树脂屏蔽材料作为研究对象，对比了在1 MGy γ射线及叠加1.19×1015cm-2中子辐照两种辐照环境下屏蔽材料力学性能、断口组织形貌、特征化学产物及热稳定性能的变化规律。结果表明：持续约11.6 d的γ射线辐照及叠加持续约3 h的中子辐照后屏蔽材料力学性能持续降低，但均未降低到辐照前的50%以下，屏蔽材料在此条件下产生了辐照降解，但未发生失效。与单独的γ射线辐照相比，叠加中子辐照后屏蔽材料1H-NMR图谱δ=7附近峰的强度没有明显变化，说明未继续发生苯环上C-H键的断裂。屏蔽材料热失重50%质量损失温度T50%由辐照前的526.3℃降低到了γ射线辐照后的453.2℃及γ射线叠加中子辐照后的463.9℃，屏蔽材料辐照后热稳定性降低。
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单位中国工程物理研究院核物理与化学研究所; 中广核研究院有限公司
