一种XILINX 7系列FPGA的抗单粒子翻转加固技术

作者：王冠雄; 王佳; 孙逸帆; 滕树鹏; 鲍迪

来源：航天标准化, 2020, (02): 40-44.

DOI：10.19314/j.cnki.1009-234x.2020.02.010

• SEU(单粒子翻转)
• SRAM型FPGA
• 抗辐加固
• 回读刷新

为解决XILINX公司7系列FPGA受SEU (单粒子翻转)的影响,采用一种基于软件错误缓解IP核(SEM IP)的新型回读刷新技术,使用SEM IP的故障注入方法并进行故障注入实验及单粒子实验。实验证明,该技术可在FPGA配置位流数据结构未知的情况下,以帧为单位对XILINX 7系列FPGA的配置位流进行比对及纠错,从而实现抗SEU加固。

• 单位
  上海航天电子技术研究所