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摘要
微纳米尺度下的应力/应变测量方法是实验力学研究的重要方向之一。现有的许多研究忽略了待测试件表面的散斑图质量、系统随机误差、计算流程等因素对最终的应变场测量精度的影响。围绕基于扫描探针显微镜的数据图像相关技术实现过程,提出科学的评估准则、优化位移场计算方法。实验结果表明,所提出的应变场计算方法在精度控制方面的性能得到显著提升。
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微纳米尺度下的应力/应变测量方法是实验力学研究的重要方向之一。现有的许多研究忽略了待测试件表面的散斑图质量、系统随机误差、计算流程等因素对最终的应变场测量精度的影响。围绕基于扫描探针显微镜的数据图像相关技术实现过程,提出科学的评估准则、优化位移场计算方法。实验结果表明,所提出的应变场计算方法在精度控制方面的性能得到显著提升。
