克里金插值法内插IGS电离层图精度分析

作者：崔书珍; 周金国

来源：全球定位系统, 2016, 41(04): 43-47.

DOI：10.13442/j.gnss.1008-9268.2016.04.010

• 克里金插值法
• 双线性插值法
• Junkins加权插值法
• IGS电离层图
• 垂直总电子含量

采用克里金插值法和常用插值方法内插IGS电离层图数据,获得重庆CORS网5个基准站电离层穿刺点处的VTEC值,和利用5个基准站的GPS平滑伪距观测值解算的VTEC值进行比较,发现克里金插值法和常用插值方法的内插精度相当,故克里金插值法内插IGS电离层图的精度是可靠的。

• 单位
  重庆工程职业技术学院; 国家测绘局重庆测绘院