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摘要
本发明公开了一种适用于OTA测试的噪声温度测试方法,该发明旨在使用空口测试的方法来测量待测器件的噪声温度,包括以下步骤：根据第一测试系统,获取仪表的噪声温度；构建第二测试系统,测试整个第二测试系统的噪声温度及增益；构建第三测试系统,测试整个第三测试系统的噪声温度值和增益,其中待测器件适用于微波毫米波模块、接收机、发射机、封装天线等器件和系统。测试仪表可以是噪声源和信号分析仪的组合,也可以是其它噪声发生设备和接收系统。该测量方法通过测试前对环境温度、仪表进行校准,因此对于天线射频一体化模块、片上天线模块的测试具有简便、快捷、精度高的特点。
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