一种高精度锁相环抖动测量电路设计

作者：蔡志匡; 王昌强; 王子轩; 代鸣扬; 肖建^*

来源：南京邮电大学学报(自然科学版), 2018, 38(06): 29-35.

DOI：10.14132/j.cnki.1673-5439.2018.06.005

• 高精度
• 边沿对齐
• 周期抖动测量
• 长周期抖动测量
• 欠采样

锁相环作为数字和模拟电路中不可或缺的基本电路单元,其性能的稳定性在电路工作过程中尤为重要。基于欠采样的抖动测量电路是目前锁相环片上测试领域的研究热点。文中针对目前抖动测量方案存在的测量精度低和测量成分单一的问题,基于欠采样测量原理,设计了一种高精度锁相环抖动测量电路,能够实现周期抖动和长周期抖动的测量。在SMIC 40 nm LL工艺条件下,完成前后仿真:针对多组测试数据,得出周期抖动测量平均误差是2. 81%,长周期抖动测量的平均误差是3. 67%,电路面积为2 448μm2,功耗为0. 37 m W,满足设计需求。

• 单位
  南京邮电大学; 东南大学生物科学与医学工程学院