摘要

对涂硼多丝正比室的中子探测效率进行了优化,并搭建出一套基于数字化仪及延迟线读出的电子学系统:延迟线读出法利用延迟块实现了时间和位置的转换;数字化仪将多路通道脉冲信号同时采集,结合Wave Catcher软件可对脉冲波形的输出振幅和时间信息实时测量和保存。采用α源对读出系统进行了多丝正比室的位置分辨测试,系统位置分辨率可达0.45 mm,并进行了入射粒子的二维成像显示,测试结果验证了读出系统的可行性。