摘要

以钛酸锶钡和稀土氧化物粉末靶为靶材,用离子束溅射法在MgO(100)和Si(100)基片上组合制备了不同掺杂浓度的Ba0.6Sr0.4TiO3∶Re(BST∶Re)薄膜样品阵列.沉积得到的多层无定形薄膜经低温扩散、高温晶化,形成BST∶Re多晶薄膜.以扫描近场微波显微镜测定BST∶Re/MgO(Re=Er,Eu,Pr/Al)样品的介电常数,研究掺杂种类及掺杂浓度对BST薄膜介电常数的影响.结果表明,稀土离子的适量掺杂使BST薄膜介电常数有所提高,其中,Er3+和Eu3+的最佳掺杂浓度分别为4.5%及5.7%(原子分数)左右时,介电常数值达到最高.而共掺杂Pr3+和Al3+的样品则在n(AL)∶...