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摘要
随着集成电路的规模不断扩大，其测试成本随测试时间的增长而不断提高，如何优化测试参数是一个重要课题。模拟集成电路测试中，测试参数间存在非线性隐式依赖，使得直接揭示其相互关系并进行测试方法优化非常困难。本文基于XGBoost决策树模型提出了一种优化模拟集成电路测试参数数目的方法，该方法探索不同测试参数间的相互表征能力，在测试序列中依次删减可被良好表达的测试参数，在保证一定逃逸率的条件下达到缩短测试时间的目的。本文讨论了故障数目、特征重要性和SHAP值3种评估测试参数间表征能力的指标，并对两类模拟集成电路测试数据集进行了实验，结果表明故障数目是一种优秀的评估指标，可在测试逃逸率不超过20 PPM的条件下实现25%的测试参数优化。
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