摘要
在低维材料中,二维材料的剥离技术已经相对成熟,准一维材料由于具有特殊晶格结构,其减薄方法目前还缺乏系统的研究。针对准一维层状超导体TaSe3,借助X射线衍射仪(XRD)、Raman光谱仪(RS)、原子力显微镜(AFM)与光学显微镜(OM)表征手段,系统地研究了微纳尺度样品的机械剥离法与超声辅助液相剥离法。结果表明:在机械剥离法中,提高温度或者改变样品放置方向使其与剥离方向垂直时,总剥离样品数和理想微纳尺度下的样品个数均增加,但理想样品占总样品的比例降低;在超声辅助液相剥离法中,利用超声波破碎仪,在振幅为305μm的条件下,超声20 min时,得到的理想样品最多,且远远多于机械剥离法得到的样品。因此,超声辅助液相剥离法与机械剥离法相比,更适用于微纳尺度准一维材料减薄。
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单位重质油国家重点实验室; 中国石油大学(北京); 材料学院