研究了数字电路故障的基本特点,结合电路自修复对故障信息的要求,提出了一种基于LUT和二模冗余的故障检测方法,该方法利用LUT来存储细胞正常工作的状态,利用正常工作状态和实际工作状态的对比,来实现细胞工作状态的实时监测,从而检测细胞是否故障.该方法能够同时对多个细胞进行检测,增加故障覆盖率,减少了设计的复杂程度和硬件资源的消耗,具有很好的工程实用价值.
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