基于Cortex-M3的快速发光二极管光电参数测量系统

作者：汪黎栋; 茅振华; 倪魏

来源：光学精密工程, 2014, 22(04): 856-862.

• Cortex-M3
• 发光二极管
• 光参数测量
• 电参数测量
• 色坐标

针对发光二极管(LED)分选设备对光电参数测量系统的需求,研制了一种基于Cortex-M3(以下简称M3)的快速LED光电参数(包括光参数和电参数两部分)测量系统。该系统分为光参数检测模块(自制光谱仪)、电参数测量模块及显示模块等3部分。光参数检测模块采用M3作为主处理器,对测量获得的光谱数据进行计算,进而得出实测的LED光参数,并将光参数传递给同样以M3为主处理器的电参数测量模块。利用该系统架构,有效提高了LED参数测量的速度和性能。最后,在脱离LED分选机械控制的前提下,利用研制的LED光电参数测量系统进行了LED的实际快速测量。结果显示:电参数测量周期小于31ms,光参数测量周期可小至10ms,色坐标一致性误差小于0.002 5%。

• 单位
  浙江省计量科学研究院