典型光电器件60Co γ射线辐照试验研究

作者：刘伟鑫; 徐导进; 吾勤之

来源：核技术, 2010, (08): 584-587.

• 光电器件
• 电离辐照效应
• 氧化物陷阱电荷
• 界面态陷阱电荷

用60Coγ射线对GaAlAs异质结红外发光二极管OP224和NPN型Si光电三极管OP604进行了电离辐照试验,分析了试验器件在60Coγ射线辐照下氧化物陷阱电荷和界面态陷阱电荷的积累效应。结果表明,随着辐照累积剂量的增加,OP224正向电流的最大值逐渐下降,红外光强度逐渐衰减;OP604的暗电流逐渐增大,光电流逐渐下降。