用电子探针分析(EPMA)测量钢中珠光体平均片层间距

作者：康皓; 韩宗涛; 赵宪明; 吴迪

来源：物理测试, 2014, 32(02): 28-30.

DOI：10.13228/j.boyuan.issn1001-0777.2014.02.009

• 电子探针分析(EPMA)
• 测量
• 片层间距

以典型的珠光体钢U75V重轨钢为例,介绍了一种利用电子探针分析(EPMA)测定钢中珠光体平均片层间距的方法。选择尽量垂直于珠光体片层的法线方向作为扫描路径,得到碳含量分布曲线为"波峰"+"波谷"的形状,两个"波峰"或"波谷"之间的距离即为一个珠光体片层间距,由于扫描路径长度已知,通过计算扫描路径上"波峰"或"波谷"的数量就可以获得该视场下珠光体的平均片层间距。此法直观、简单、计算量少,所测得的珠光体平均片层间距更接近其真实平均片层间距。

• 单位
  轧制技术及连轧自动化国家重点实验室; 东北大学; 机电工程学院; 兰州交通大学