一种真空断路器机械特性检测设备的研发

作者：李晔

来源：电子测试, 2019, (18): 11-12.

DOI：10.16520/j.cnki.1000-8519.2019.18.003

• 真空断路器
• NI-CompactDAQ
• 机械特性测试

本文阐述一种基于NI-CompactDAQ的真空断路器特性检测设备的开发过程,分析了NI高速采集卡的采集控制方法;特性测试测试过程中,采集的大量数据如何解析分配,并生成直观的特性曲线;研究对机械特性测试的各项结果的分析和算法;并通过SQL建立特性测试仪的数据库系统,实现了一个造价低,智能化,精度高的真空断路器测试仪设计,该设备很好的平衡了国内外的性能和价格的优势,在真空断路器生产环节中具有广泛的应用价值。