微波介质基板介电性能测试方法探讨

作者：董彦辉; 张永华

来源：印制电路信息, 2019, 27(09): 27-31.

• 微波介质基板
• 带状线
• 测试方法
• 相对介电常数
• 损耗因子

文章分别对微波介质基板材料介电性能测试的几种主流的标准方法GB/T 12636-1990、IPC TM-6502.5.5.5c、IPC TM-650 2.5.5.13,以及QWED公司的SPDR、TE01δ方法进行了详细的阐述,并对各个测试方法的优势和不足进行了研究讨论,最后通过对同一种基板材料分别进行介电性能测试的方式,比较分析了上述各类测试方法的测试结果。

• 单位
  中国电子科技集团公司第四十六研究所; 无锡江南计算技术研究所