是德科技推出全新第三代参数测试解决方案,帮助客户缩短上市时间并降低测试成本

来源：电子测量与仪器学报, 2018, 32(02): 118.

<正>最新的参数测试解决方案,采用"真"参数化引脚架构,并利用增强型直接电荷测量技术来提升速度新闻要点:是德科技P9000已是业界最快、功能最全的半导体参数测试解决方案,用于高级逻辑和记忆集成电路的研发和批量生产第三代P9000凭借全新的参数测试单元模块,可进一步提升测试速度,同时克服电容测量所面临的挑战