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摘要
镁合金的比重比铝合金还小，但是它的能量衰减系数大，而且具有优秀的电磁屏蔽等优点，作为2l世纪理想的电子产品外壳材料而广为人知。采用AZ91D型镁合金作为试验材料，比较了镁合金在2种熄弧方式下微弧氧化的现象及其表面性能。结果表明：自然熄弧和强制熄弧状态下电弧的形态有明显的区别。发展方向主要表现为自然湮灭圆弧向周围发展，强制熄灭弧主要向纵深发展；2种熄弧方式对膜厚影响不大；自然熄灭电弧获得的陶瓷膜粗糙，表面有白色斑点、孔，有时会导致工件报废，而强制熄弧状态下形成的膜层表面相对光滑，陶瓷膜与基板紧密结合，性能良好。
