结合OCT分析DES术后晚期或晚晚期支架内血栓形成的危险因素

作者:陈玉善; 关怀敏; 解金红; 罗明华; 王贺; 邱承杰; 董文杰; 宗永华
来源:临床心血管病杂志, 2014, 30(06): 498-501.
DOI:10.13201/j.issn.1001-1439.2014.06.011

摘要

目的:结合光学相干断层成像技术(OCT)分析药物洗脱支架(DES)术后支架内晚期或晚晚期血栓发生的危险因素。方法:回顾性分析曾在本院或外院行药物支架术,经冠状动脉(冠脉)造影和(或)OCT确诊的发生晚期或晚晚期支架内血栓的19例患者。按年龄、性别(2∶1)匹配原则抽取曾行药物支架术,冠脉造影证实未发生支架内血栓患者38例作为对照组。对晚期或晚晚期支架内血栓的主要危险因素、冠脉造影和OCT分析。采用条件Logistic回归分析晚期或晚晚期支架内血栓形成的独立危险因素。结果:支架内血栓组糖尿病史、既往心肌梗死病史、空腹血糖、左室射血分数(LVEF)与对照组差异有统计学意义(均P<0.01)。定量冠脉造影分析及OCT检查结果显示:支架内血栓组患者置入支架数目、支架长度、支架贴壁不良率、支架内皮未被覆盖率均显著高于对照组(P<0.05)。条件Logistic回归分析显示:既往心肌梗死病史(OR:7.642,95%CI:1.41241.152,P<0.01)、支架长度(OR:13.285,95%CI:3.19855.189,P<0.01)、支架数量(OR:1.645,95%CI:1.1062.447,P=0.014)、支架贴壁不良率(OR:5.132,95%CI:4.8005.464,P=0.001)、未被覆盖支架柱比例(OR:12.549,95%CI:3.65743.067,P<0.01)、糖尿病(OR:7.256,95%CI:1.72130.591,P<0.01)为DES术后晚期或晚晚期血栓的危险因素。正常的LVEF(OR:0.714,95%CI:0.5740.887,P=0.002)为其保护因素。结论:长支架、多支架置入、支架贴壁不良和支架内皮化不全、心肌梗死病史是晚期或晚晚期血栓的独立危险因素,正常的LVEF是其保护因素。

  • 单位
    河南中医学院第一附属医院

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