Flash型FPGA内嵌BRAM测试技术研究

作者：雷星辰; 季伟伟; 陈龙; 韩森

来源：电子与封装, 2023, 23(12): 18-23.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0172

• Flash型FPGA
• March C+算法
• BRAM

Flash型FPGA由于具有高可靠性、卓越的安全性和即插即用的功能，被广泛应用于军事及航空航天领域。Flash型FPGA的内部结构复杂而庞大，因此研究其测试技术的可靠性和准确性至关重要。块随机存储器（BRAM）作为FPGA内部重要的存储模块，在传统测试中存在故障覆盖率较低的问题。为了扩大故障覆盖范围，对March C+算法进行了改进，优化后算法对写干扰故障（WDF）、写破坏耦合故障（CFwd）、干扰耦合故障（CFds）和字内耦合故障的检测能力得到了显著提高。结果表明，优化后的算法相较于March C+算法，其故障覆盖率提高了25个百分点，且与时间复杂度相同的March SS算法相比，其故障覆盖率提高了5.8个百分点。

• 单位
  电子科技大学; 中国电子科技集团公司第五十八研究所; 高等研究院