一起10kV母线局放缺陷处理分析

作者：朱叶鑫

来源：电气开关, 2013, (05): 95-96+101.

• 局放
• 气隙
• 缺陷
• 半导体 partial discharge
• air gap
• defect
• semiconductor

基于对一起在高压试验中出现10kV母线局部放电缺陷的分析及处理,探讨母排对绝缘套管内金属隔板局放的形成原因,并找出此类局放的比较简便的处理方法。为同类缺陷提供日常维护、试验及检修的相关经验。

• 单位
  广东电网公司珠海供电局