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摘要
针对粗晶材料超声检测信噪比低的问题，提出了一种水平分置线性双阵列超声成像方法。将两个线阵超声换能器沿直线水平分置在待检区域表面两侧，用收发分离的信号采集模式，一侧激发，另一侧记录各通道数据，进行聚焦成像。相比单阵列和同位置双线阵检测，文中的方法有效地减少了背向散射信号对缺陷信号的干扰，提高了成像信噪比。在粗晶铜质试块上的成像实验结果表明，当缺陷距离阵列较近时，文中的方法优于单阵列和同位置双线阵方法，成像信噪比提高约5～10 dB；当缺陷距离阵列较远时，单阵列模式和同位置双线阵检测方法失效，但文中的方法依然可以识别缺陷。文中的研究为粗晶材料的超声检测提供了一种可行的方案。
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单位声场声信息国家重点实验室; 中国科学院大学; 中国科学院声学研究所
