面向宇航元器件的微尺度材料的可靠性问题及测试评价技术

作者：何端鹏; 高鸿; 李岩; 邢焰

来源：中国航天, 2020, S1: 130-139.

• 宇航元器件
• PCS体系
• 微尺度材料
• 质量控制
• 可靠性问题
• 测试技术

微型化是宇航元器件技术发展的趋势,因此微尺度材料在元器件领域应用日益广泛。在宇航元器件PCS体系构建中,材料可靠性问题也已成为重点关注项。本文概述了元器件用微尺度材料的几类典型可靠性问题及使用风险,系统阐述了针对微尺度材料的测试评价方法,希望能够从材料技术角度为元器件质量保证技术提供思路。