基于温度的电缆绝缘老化诊断研究

作者:翟章良; 周力行; 张鹏飞
来源:电子设计工程, 2018, 26(17): 112-120.
DOI:10.14022/j.cnki.dzsjgc.2018.17.025

摘要

基于提高电缆运行稳定性的目的,分析引起电缆故障的主要原因,通过加速电缆老化进程试验,再采用有限元分析法构建电缆温度场仿真模型,最后采用分布式光纤测温技术对电缆温度进行监测,可得知电缆温度与其绝缘老化进程有着密切的关系,经对比分析可知,在不同电流下,电缆温度的临界值也不同,例如流经的电流为100 A时,电缆内部温度为34.94℃,电缆护套温度为29.23℃,则超过此温度时会加速电缆老化,减少电缆寿命。

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