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摘要
从原材料选择、碳化硅(SiC)颗粒性能、掺杂材料对防晕性能的影响等方面,介绍了防晕材料的优化过程。一次成型及涂刷型lacquer防晕结构分别适用于多胶绝缘体系与VPI少胶绝缘体系。预制带的透气性及防晕层电阻率的稳定性问题,是制约少胶绝缘体系使用一次成型防晕结构的关键。防晕层的电阻分散性及SiC含量是影响防晕效果重要因素。从防晕层外附加绝缘及覆盖漆、影响起晕电压因素、内屏蔽作用等方面介绍了防晕结构及工艺。防晕结构优化计算能从理论上总结出防晕层各项参数的适用范围,为吸收消化国外防晕技术奠定了基础。
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单位哈尔滨大电机研究所
