使用T3Ster对宇航电子元器件内部热特性的测量

作者：张立; 汪新刚; 崔福利

来源：空间电子技术, 2011, (02): 59-64.

• 热测试仪
• T3Ster
• 航天器
• 电子元器件
• 热特性 Thermal tester
• T3Ster
• Spacecraft
• Electronic component
• Thermal performance

文章介绍了使用MicReD公司的热测试仪T3Ster测量元器件内部热特性的方法。T3Ster测试仪可以测试各类IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性以及PCB、导热材料等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。使用T3Ster测试仪对某航天器用电子元器件内部热特性进行了测量,并与器件资料中的热特性数据进行比对,二者相对误差为0.07%,验证了T3Ster测试仪具有测试高可靠度要求的宇航级电子元器件热特性的能力。为宇航电子元器件的热设计与热分析提供重要的试验依据。

• 单位
  中国空间技术研究院