摘要

小麦作为重要的储备粮之一,在存储过程中极易受到霉菌侵染,直接影响存储质量,危害食用者健康。传统的霉变检测方法往往基于化学分析法,其检测过程相对繁琐,反应时间长。为快速、准确地判断小麦籽粒的霉变程度,本文研究了基于太赫兹时域光谱(terahertz time-domain spectrum,THZ-TDS)技术,结合支持向量机(Support vector machine,SVM)、随机森林(random forest,RF)和极限学习机(extreme learning machine,ELM)的霉变小麦定性分析方法。首先,将小麦籽粒分为正常、轻度霉变、中度霉变和重度霉变四类,利用CCT-1800太赫兹时域光谱仪获取小麦样本在0.1~4.0 THz波段的光谱数据。对比采用不同光谱预处理方法对判别结果的影响后,使用主成分分析(principal component analysis,PCA)、线性判别分析(linear discriminant analysis,LDA)、t分布随机近邻嵌入(t-distribution random neighbor embedding,t-SNE)等3种方法对光谱数据进行降维,结果表明LDA的降维效果最好。最后,构建基于SVM、RF和ELM的小麦霉变程度判别模型,结果显示SVM的判别效果最好,当核函数选择多项式核、误差惩罚系数为1时,判别准确率高达98.61%,RMSE值为0.0717。本研究表明利用太赫兹光谱技术可实现小麦霉变程度的准确检测,为食品安全和粮食贮藏检测提供一种检测手段。