基于LSTM算法的电子部件故障预测

作者:董琦; 周靖宇; 陈长乐; 靳为东; 赵杰
来源:电子测试, 2020, (10): 47-48.
DOI:10.16520/j.cnki.1000-8519.2020.10.016

摘要

故障诊断与预测使用大量信息数据,需要采用推断统计、神经网络等研究方法,对测试数据进行分析和预测,从而评估设备健康状况,在故障发生前对指标进行预测和采取预防举措,最大限度保证电子设备健康工作。本文提出了基于LSTM(长短时记忆网络)算法的电子设备部件故障预测模型,针对时序型数据对轴承运行状态进行分析和预测。