摘要

本文从现代电子元器件质量管理的新要求出发,介绍了现代电子产品评价技术:工序能力指数、统计过程控制以及PPM技术。重点介绍了工序能力分析的基本概念,分析了工序能力指数的国内外研究现状,提出了目前存在的问题,并对未来的解决途径进行了展望。