一种FPGA芯片中DSP模块的内建自测试方法

作者：孙洁朋; 魏建民; 闫华; 丛红艳

来源：电子与封装, 2017, 17(10): 9-12.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0117

• 内置自检测
• 乘法器测试
• 加法器测试
• DSP
• FPGA
• Virtex-4

提出了一种针对Xilinx Virtex-4/5系列FPGA芯片中嵌入式数字信号处理器(DSP)的内置自检测试(BIST)和故障诊断方法。该方法可以对DSP电路中乘法器和加法器进行有效的测试,缩短测试时间,减少工作量。同时通过更改DSP的配置信息来实现全芯片DSP的功能测试,提高了DSP模块的测试故障覆盖率。

• 单位
  中国电子科技集团公司第五十八研究所