界面结构对触头可靠性影响的研究

作者：吴明星; 周芳; 曹伟产^*; 马朋涛

来源：电工材料, 2018, (04): 8-10.

DOI：10.16786/j.cnki.1671-8887.eem.2018.04.002

• CuW合金
• 触头
• 强度
• 断口

以CuW-CuCr触头为研究对象,采用模拟仿真计算了CuW-CuCr触头不同界面结构时其界面的受力情况,同时验证了不同界面结构的触头的界面强度。结果表明,触头的CuW部分与CuCr界面的结合形式直接决定着界面处受力的大小,可以通过改变界面处的结合结构来改变界面处的受力。

• 单位
  西安西电开关电气有限公司