基于SIW-CSRR的固体物质介电常数测试件设计

作者：郝宏刚; 王德戌; 汪竹; 尹波; 阮巍

来源：微波学报, 2020, 36(03): 15-19.

DOI：10.14183/j.cnki.1005-6122.202003003

• 介电常数
• 基片集成波导(SIW)
• 互补开口谐振环(CSRR)

为满足当前固体物质介电常数的检测需求,在基片集成波导(SIW)的基础上加载互补开口谐振环(CSRR),设计了一款固体物质介电常数测试件,讨论了利用测试件谐振频率的偏移检测固体物质介电常数的可行性。仿真与测试结果表明,当检测物质相对介电常数从1变化至10时,测试件谐振频点从7.56 GHz偏移至6.28 GHz,偏移量达1.28 GHz。利用谐振频点与测试样品介电常数的关系,测量了5种常见电路板材的相对介电常数,其相对误差均低于3%。

• 单位
  重庆邮电大学