一种基于模型的BIT虚警识别算法

作者：刘逸涵; 王晓勇; 苏鹏涛

来源：数码世界, 2020, (03): 3.

• BIT技术
• BIT自检测
• 虚警识别

BIT(built-in test, BIT)技术是影响机载电子设备的测试性、维修性和保障性的关键问题之一,如何使得BIT设计变得合理有效是BIT技术研究的重要内容。本文首先对BIT发展的现状以及存在的问题进行了分析;其次,根据个人的工程经验总结出了几种典型的BIT自检测方法;最后,对BIT中常出现的虚警问题进行了原因分析,并提出了一种基于模型的BIT虚警识别算法,并分析了该算法的可行性。