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摘要
稀土元素的掺杂能显著提高ZnO压敏电阻的电压梯度(E1mA)，但却会导致泄漏电流的增加，从而致使ZnO压敏电阻的老化稳定性降低。为了解决稀土元素掺杂导致泄漏电流增加的问题，研究了Y2O3、Ga2O3和B2O3共掺杂对ZnO压敏电阻微观结构和电气性能的影响。掺杂的Y2O3通过钉扎效应能够显著抑制ZnO晶粒的生长提高样品的E1mA。Ga2O3的掺杂则有助于提高晶界层的势垒高度(φb)、抑制泄漏电流密度(JL)的增加。而B2O3的掺杂则有助于改善样品的液相烧结，避免具有高电阻率Y尖晶石相聚集现象的发生，传输通道的阻断有利于降低样品的JL。此外，B2O3的掺杂能够促进ZnO晶粒与其他添加剂在晶界处的离子交换，使φb得到有效的提高，进一步降低其JL。通过Y2O3、Ga2O3和B2O3的共掺杂获得了综合性能相对优异的ZnO压敏电阻：其E1mA=466 V/mm,JL=0.41A/cm2，非线性系数为95。高梯度、低泄漏ZnO压敏电阻的成功研发对于解决金属氧化物避雷器整体电位分布不均的问题具有重要的意义。
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