科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
本文简单介绍存储器内建自测试设计技术原理，针对具体的RTL实例，对自顶向下设计方法和层次化设计方法进行了比较。实例结果表明：层次化的设计方法在大型芯片的存储器内建自测试设计中，可以加速设计，减少设计迭代时间，大幅提高工作效率。
-
单位安徽芯纪元科技有限公司; 中国电子科技集团公司第三十八研究所
本文简单介绍存储器内建自测试设计技术原理，针对具体的RTL实例，对自顶向下设计方法和层次化设计方法进行了比较。实例结果表明：层次化的设计方法在大型芯片的存储器内建自测试设计中，可以加速设计，减少设计迭代时间，大幅提高工作效率。
