多铁性HoMnO_3外延薄膜的微结构研究

作者：于奕; 章晓中; 杨军杰; 王嘉维; 赵永刚

来源：电子显微学报, 2013, 32(03): 187-191.

• 多铁性
• 六方锰氧化物
• 透射电子显微术
• 异相边界 multiferroic
• hexagonal manganite
• transmission electron microscopy
• out-of-phase boundary

多铁性六方锰氧化物RMnO3(R=Y,Ho-Lu)具有丰富的结构与物理内涵,是近年来凝聚态物理与材料科学领域的研究热点。本文利用透射电子显微术对钇稳定氧化锆(yttria-stabilized zirconia,YSZ)基底上外延生长的HoMnO3薄膜的微结构进行表征。研究结果表明,c轴取向的HoMnO3薄膜可以在YSZ(111)基底上实现良好的外延。薄膜中的主要缺陷为异相边界(out-of-phase boundary,OPB)。OPB的产生归因于表面台阶机制和形核层机制。OPB缺陷处会出现化学计量比失衡,实验上观察到富Ho和富Mn两种类型的OPB,这些化学计量比失衡的缺陷会对薄膜的电学性能...

• 单位
  材料学院; 清华大学; 低维量子物理国家重点实验室