摘要
M′-型 Nd3+:GdTaO4微晶被成功合成并用于变温和变压光谱测试研究。在 293~373 K 的测试温度范围内,3F3/2→4I9/2跃 迁 的 光 谱 位 置 具 有 高 热 稳 定 性 ,3F3/2(R2)→4I9/2(Z5) 跃 迁 的 温 度 系 数 仅 为 0.003 9 cm-1·K-1,3F3/2(R2)→4I9/2(Z2) 和3F3/2(R1)→4I9/2(Z2)跃迁荧光的强度比具有高温度依赖性,在生理温度范围内的相对灵敏度为(0.60–0.52)(%·K–1)。在高达11.39 GPa 的测试压力范围内,所有跃迁随压力呈线性移动。3F3/2(R2)→4I9/2(Z5)跃迁的光谱位置对压力非常敏感,其灵敏度为15.18 cm-1·GPa-1。此外,各跃迁的荧光强度和光谱宽度在升温和增压过程中的变化也被分析和讨论。与其它近红外光学传感器的对比表明,M′-型 Nd3+:GdTaO4在温度和压力传感方面具有良好性能。
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